2016年2月，作為亞洲最大的激光、光學、光電行業(yè)盛會，慕尼黑光博會將于3月15-17日在上海新國際博覽中心隆重舉辦。屆時將會集中展示涵蓋激光器與光電子、光學與光學制造、激光生產與加工技術、成像，檢測和質量控制四大板塊的全方位產品內容，
雷尼紹連續(xù)三年傾力參加慕尼黑光博會這個贏得業(yè)界高度認可的行業(yè)盛會，在往屆得到了很好的展示反饋，展會期間每天均接待眾多高質量觀眾的技術與服務咨詢。作為世界領先的測量與過程控制解決方案供應商，雷尼紹今年將繼續(xù)攜旗下一系列精密位置反饋系統(tǒng)王牌產品亮相展會，包括ATOM?微型增量式光柵、RESOLUTE?絕對式光柵、TONiC?緊湊型接觸式光柵、RG2/RG4增量式光柵等。
展臺現(xiàn)場特別設立ATOM?微型增量式光柵互動體驗區(qū)。屆時您蒞臨雷尼紹展臺可以親自動手操作，感受ATOM的安裝便捷和超強抗污性能，資深工程師的專業(yè)講解也將為您全方位解答各種應用難題。
光學感應器和激光測量與檢測系統(tǒng)在生產、工業(yè)技術、醫(yī)療和科研領域中已不可或缺，是保證生產質量和效率的基礎。本次雷尼紹將亮相于W3號館檢測與質量控制展區(qū), 期待著檢測領域的專家學者和行業(yè)用戶匯聚一堂，共同探討 產業(yè)應用發(fā)展和升級換代。
誠邀閣下蒞臨雷尼紹展位，展位號W3-3402。
我們將為閣下提供精準可靠的位置反饋產品和激光測量解決方案。
ATOM增量式光柵系統(tǒng)
ATOM是一款雷尼紹隆重推出的、全新非接觸式的增量式直線光柵和圓光柵系統(tǒng)，它采用了獨特的創(chuàng)新設計，將微型化與優(yōu)異的抗污能力、信號穩(wěn)定性和可靠性完美結合。
ATOM最小尺寸可達6.8 mm x 20.5 mm x 12.7 mm，是世界上第一款采用光學濾波系統(tǒng)及自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC) 的微型光柵。
ATOM讀數頭可提供各種型號，具有一流的精度、超低的電子細分誤差 (SDE)、極低的抖動、極高的信號穩(wěn)定性和長期可靠性等優(yōu)點，計量性能首屈一指。ATOM的工作速度可達20 m/s（在17 mm碼盤上為29,000 RPM），分辨率達1 nm（在108 mm碼盤上為0.004角秒），可提供不銹鋼及玻璃材質的直線柵尺和圓光柵。讀數頭還包含方便其進行快速安裝的LED安裝指示燈，以及可實現(xiàn)快速優(yōu)化的自動校準程序。
ATOM超小型讀數頭可用于激光掃描，坐標測量系統(tǒng)、半導體和平板顯示器的生產以及電機驅動系統(tǒng)、顯微鏡和科研領域。ATOM具有CE認證，由雷尼紹在極其嚴格的質控（獲得ISO 9001:2008認證）條件下自行制造。與所有雷尼紹光柵一樣，ATOM也由一個全球團隊支持，提供真正快捷的全球化服務。
側出線型RESOLUTE?絕對式光柵
雷尼紹另外一款明星，側出線型RESOLUTE絕對式光柵，圓光柵和直線光柵均有此選項。為滿足平板顯示器 (FPD)、電子零部件組裝及測試設備市場的需求，這種配置應運而生，它可與各種現(xiàn)有協(xié)議兼容。側出線極大增加了軸行程，是縱向空間有限的直線應用的理想選擇。該光柵可在同一柵尺上并列安裝讀數頭，從而允許在下述應用中控制軸上多個點，例如用于生產液晶顯示器 (LCD) 的液體分配系統(tǒng)，以及半導體生產、電子裝配和測試的各個階段。
TONiC緊湊型接觸式光柵
雷尼紹TONiC系列產品是用于高動態(tài)精密運動系統(tǒng)的新一代超緊湊型光柵，為各種要求嚴格的工業(yè)領域提供了更高的精度、速度和可靠性。該讀數頭采用第三代光學濾波系統(tǒng)，噪聲（抖動）更低，具有極佳的可靠性和抗污染能力。TONiC讀數頭還有一個可分離的模擬或數字接口，該接口為堅固耐用、使用方便的接頭，可放置在距讀數頭不超過10 m遠的地方。接口提供的數字信號經細分后分辨率可達1 nm，定時輸出數字信號保證了所有分辨率下各種工業(yè)標準控制器的最佳速度性能。
展出的另一個亮點是雷尼紹公司的激光干涉儀和球桿儀測量系統(tǒng)，用于評估、監(jiān)控并提高機床、坐標測量機 (CMM) 及其他位置精度要求關鍵的運動系統(tǒng)的靜態(tài)和動態(tài)性能。
XR20-W無線型回轉軸校準裝置
XR20-W采用無線電動控制，數據采集與軸運動同步，即在數據采集期間無需操作員干預。該裝置與雷尼紹激光系統(tǒng)配合使用，通過遠控的方式為被測機床提供高度統(tǒng)一的非接觸基準測量。使用XR20-W回轉軸校準裝置及早對回轉軸進行誤差檢測，能夠使機床發(fā)揮最佳性能。
XL-80激光干涉儀
XL-80激光干涉儀不僅可測量直線定位、俯仰及扭擺角度、直線度及垂直度等靜態(tài)幾何精度，還可用于機器振動、頻譜分析、運動速度及角速度測量分析等動態(tài)場合。它廣泛應用在數控機床及坐標測量機精度檢測、計量器具（包括部分光學儀器）的溯源檢定及其他大范圍、高精度、高速動態(tài)測量等工業(yè)領域。
